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| 金相显微镜YX-JX3 |
仪器用途：
用于PCB电路板金相分析微切片的测量和分析
仪器特点：
1.光学系统 采用无限远色差校正光学系统
2.软件通俗易懂，可实现点、线、圆弧、半径、直径、角度等测量，可根据客户要求定制软件功
技术参数：
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项目 |
主要技术参数 |
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型号 |
YX-JX30 |
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光学放大倍率 |
50X～500X |
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目镜 |
10X（带测微尺） |
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物镜 |
5X、10X、20X、50X |
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转换器 |
四孔滚珠式转换器 |
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照明系统 |
落射照明装置：高亮度LED灯照明，亮度可调， |
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CCD相机 |
300万像素高清摄像机 |
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测量精度 |
0.0012mm |
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载物台
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双层机械载物190X140mm.移动范围：75X50mm |
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样品高度 |
最大样品高度 28mm |
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测量软件： |
YX-J |
主营离子污染测试仪,自动影像测量仪,尺寸快速测量仪,2.5次元测量仪
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