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金相显微镜YX-JX
详情介绍

型号:YX-JX40

仪器用途:

用于PCB电路板金相分析微切片的测量和分析

仪器特点:

1.光学系统 采用无限远色差校正光学系统

2.软件通俗易懂,可实现点、线、圆弧、半径、直径、角度等测量,可根据客户要求定制软件功

技术参数:

项目

主要技术参数

型号

YX-JX40

光学放大倍率

50X500X

目镜

10X(带测微尺)

物镜

5X、10X、20X、50X

转换器

内定位五孔转换器

照明系统

上照明系统反射灯室暖色

下照明系统透射灯室暖色

CCD相机

300万像素高清摄像机

测量精度

0.0012mm

载物台

双层机械载物台 175×145mm,移动范围:76mm×42mm

样品高度

最大样品高度 28mm

测量软件:

YX-JX

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主营离子污染测试仪,自动影像测量仪,尺寸快速测量仪,2.5次元测量仪

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