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槽残厚测试仪 YX-CH15 |
型号:YX-CH15
仪器用途:
用于PCB电路板V型槽残厚测量及V型槽深度测量。
仪器特点:
1. 测量数据液晶。
2. 刀具采用硬质合金刀,使用寿命长。
3. 可mm/inch公制和英制自由互换
技术参数
1. 采用高精度测量百分表和数显表。
2. 公英制可切换。
3. 刀具采用硬质合金刀,使用寿命长。
4. 上下测量刀具道轨式滑行,精准度高。
技术参数
项目 |
技术参数 |
精度 |
0.01mm; |
刀刃 |
0.15mm; |
整机尺寸(L×W×H) |
500mm×505mm×400mm |
重量 |
15KG |
主营离子污染测试仪,自动影像测量仪,尺寸快速测量仪,2.5次元测量仪
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