首页 > 产品中心 > 槽残厚测试仪 YX-CH15
槽残厚测试仪 YX-CH15
详情介绍

型号:YX-CH15

仪器用途:

用于PCB电路板V型槽残厚测量及V型槽深度测量。

仪器特点:

1. 测量数据液晶。

2. 刀具采用硬质合金刀,使用寿命长。

3. mm/inch公制和英制自由互换

技术参数

1. 采用高精度测量百分表和数显表。

2. 公英制可切换。

3. 刀具采用硬质合金刀,使用寿命长。

4.  上下测量刀具道轨式滑行,精准度高。

技术参数

项目

技术参数

精度

0.01mm;

刀刃

0.15mm;

整机尺寸(L×W×H)

500mm×505mm×400mm

重量  

15KG

<< 上一页:离子污染测试仪YX-LZ20 || 下一页:长臂板厚测试仪 Y-CP80>>

主营离子污染测试仪,自动影像测量仪,尺寸快速测量仪,2.5次元测量仪

广东源兴光学仪器有限公司 地址:东莞市万江新和电化路2号合喜工业园

联系人:廖小姐 手机:13528548612电话:0769-38807533 传真:0769-38826322/38826321