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  • YX-JX40

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详情介绍

仪器用途:

用于PCB电路板金相分析微切片的测量和分析。


仪器特点:

1.光学系统采用无限远色差校正光学系统。

2.软件通俗易懂,可实现点、线、圆弧、半径、直径、角度等测量,可根据客户要求定制软件功能。


规格参数:

型号 YX-JX30 YX -JX40
光学放大倍率 50x~500x 50x~500x
目镜 10x(带测微尺) 10x(带测微尺)
物镜 5x、10x、20x、50x 5x、10x、20x、50x
转换器 四孔滚珠式转换器 内定位五孔转换器
照明系统 落射照明装置:高亮度LED灯照明,亮度可调。

上照明系统:反射灯室、暖色

下照明系统:透射灯室、暖色

CCD相机

300万像素高清摄像机 300万像素高清摄像机
测量精度 0.0012mm 0.0012mm
载物台

双层机械载物:190x140m

m移动范围:750x50mm

双层机械载物台:175x145mm

移动范围:76x42mm

样品高度 最大样品高度28mm 最大样品高度28mm
测量软件 YX-J YX-J


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